光譜分析儀以光電倍增管等光探測器測量譜線(xiàn)不同波長(cháng)位置強度的裝置。其構造由一個(gè)入射狹縫，一個(gè)色散系統，一個(gè)成像系統和一個(gè)或多個(gè)出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長(cháng)或波長(cháng)區域，并在選定的波長(cháng)上（或掃描某一波段）進(jìn)行強度測定。分為單色儀和多色儀兩種。是將成分復雜的復合光分解為光譜線(xiàn)并進(jìn)行測量和計算的科學(xué)儀器，被廣泛應用于輻射度學(xué)分析、顏色測量、化學(xué)成份分析等領(lǐng)域，在冶金、地質(zhì)、水文、醫藥、石油化工、環(huán)境保護、宇宙探索等行業(yè)發(fā)揮著(zhù)重要作用。在照明行業(yè)，通常使用光譜儀來(lái)測量光源的光色參數。
產(chǎn)品集信息采集，處理，存儲諸功能于一體。由于OMA不再使用感光乳膠,避免和省去了暗室處理以及之后的一系列繁瑣處理，測量工作，使傳統的光譜技術(shù)發(fā)生了根本的改變,大大改善了工作條件，提高了工作效率：使用OMA分析光譜，測盆準確迅速，方便，且靈敏度高，響應時(shí)間快，光譜分辨率高，測量結果可立即從顯示屏上讀出或由打印機，繪圖儀輸出.目前,它己被廣泛使用于幾乎所有的光譜測量，分析及研究工作中,特別適應于對微弱信號，瞬變信號的檢測。
光譜分析儀優(yōu)點(diǎn)：
精：采用先進(jìn)的全自平場(chǎng)凹平光柵、精密光學(xué)系統和電子快門(mén)控制技術(shù)測量精度更高
快：采用陣列探測器替代傳統機械掃描系統，在極短的時(shí)間內完成整個(gè)光譜測量
靈：不含機械掃描裝置，外型精巧美觀(guān)，無(wú)機械磨損，使用壽命長(cháng)，可靠性高
光譜儀可測定包括痕量碳（C），磷（P）,硫（S）元素,適用于多種金屬基體，如：鐵基，鋁基，銅基，鎳基，鉻基，鈦 基，鎂基，鋅基，錫基和鉛基。全譜技術(shù)覆蓋了全元素分析范圍，可根據客戶(hù)需要選擇通道元素；光譜分析儀可同時(shí)實(shí)現毫秒級的測量速度和傳統機械式光譜儀的測量精度，用于LED及LED燈具等各類(lèi)光源的光譜、顏色及光通量等光色參數的高精度測量。
地址：上海市浦東新區航川路18號
郵箱：info@yh-tek.com
傳真：021-58220558
當前位置：