原位納米粒度儀是基于光纖動(dòng)態(tài)光散射（DLS）技術(shù)的納米級懸浮和膠體特性的*表征儀器。監測納米顆粒合成，團聚或懸浮體系穩定性研究，幫助您實(shí)時(shí)分析樣品動(dòng)力學(xué)。*的“時(shí)間切片” 功能允許VASCO KinTM 用戶(hù)對測試后的數據進(jìn)行任意時(shí)間段內的粒徑分析。用戶(hù)可以獲得所選時(shí)間尺度的相應的相關(guān)圖和粒度分布。 穩頻激光光源，雪崩光電二極管（APD）探測器；可直接測量亞納米樣品（如蛋白質(zhì)），無(wú)需稀釋?zhuān)瑴y量精度高。
原位納米粒度儀樣品要求：
1)粉末藥品，確保在水溶液中有良好的分散性，20毫克以上，只能測水溶劑中性的
2)液體樣品，只能以水為溶劑
3)測試zeta樣品，選擇水為分散介質(zhì)
4)測定樣品在不同pH值條件下的粒徑和電位，請自行調好pH值
5)有毒易揮發(fā)樣品請提前告知
6)樣品測試完畢要回收，請提前告知
原位納米粒度儀主要特點(diǎn)：
﹡采用新的動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)，引入能普概念代替傳統光子相關(guān)光譜法
﹡異相多譜勒頻移技術(shù)，較之傳統的方法，獲得光信號強度高出幾個(gè)數量級，提高分析結果的可靠性。
﹡可控參比方法（CRM），能精細分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜，確保分析的靈敏度。
﹡超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計，減少了多重散射現象的干擾，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性。
﹡快速傅利葉變換算法，迅速處理檢測系統獲得的能譜，縮短分析時(shí)間。
﹡膜電極設計，避免產(chǎn)生熱效應，能準確測量顆粒電泳速度。
﹡消除多種空間位阻對散射光信號的干擾，諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸的損失，樣品池位置不同帶來(lái)的誤差，比色皿器壁的折射與污染，分散介質(zhì)的影響，多重散射的衰減等，提高靈敏度。
原位納米粒度儀是一臺高性能雙角度顆粒粒度及分子大小分析儀，采用動(dòng)態(tài)光散射法，結合“NIBS”光學(xué)器件，可增強對聚集體的檢測，還可測量小尺寸或稀釋樣品，以及極低濃度或高濃度樣品。 ZSE還包含了電泳光散射法表征顆粒、分子的zeta電位分析儀，以及靜態(tài)光散射法表征分子量。
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