APS從聲衰減光譜測量產(chǎn)生PSD數據，不需要稀釋樣品。APS還測量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導率和溫度。

當聲音穿越泥漿或膠體時(shí)，是衰減的。衰減的程度與粒度分布有關(guān)。APS可在1- 100MHz的頻率范圍內非常準確地測量聲音衰減。因為聲音穿過(guò)所有的物質(zhì)媒介，APS聲音衰減的測量可以在高濃度和/或不透明的樣品中進(jìn)行。粒子沉降并不是一個(gè)問(wèn)題，因為在測量時(shí)樣品可以被攪拌或泵送。APS分析不受樣品的Zeta電勢水平的約束。APS很容易分析零粒子和高電荷。

APS取樣分析是快速和容易的，無(wú)需稀釋樣品。稀釋樣品費時(shí)，容易出錯，并可能改變樣品的實(shí)際PSD。簡(jiǎn)單地倒，或者連續泵送樣品進(jìn)入到APS的樣品室，APS的直觀(guān)的軟件在幾分鐘內做玩余下的工作。

計算詳細PSD數據的技術(shù)，不需要假設PSD形狀。其他類(lèi)型的儀器，例如光散射，意味著(zhù)軟件或操作者假設或猜測PSD是單峰、雙峰、對數正態(tài)或高斯分布的。這種假設可能導致數據不可靠。

專(zhuān)門(mén)的APS硬件設計簡(jiǎn)化了操作，同時(shí)減少維護。這個(gè)設計適合研發(fā)以及重復質(zhì)量控制測量。APS也適合過(guò)程在線(xiàn)操作。

常用的粒度測量方法：

（1）篩分法

（2）沉降法（重力沉降法、離心沉降法）

（3）電阻法（庫爾特顆粒計數器）

（4）顯微鏡（圖像）法

（5）電鏡法

（6）超聲波法

（7）透氣法

（8）激光衍射法