超聲電聲法Zeta電位儀是納米材料的一種重要表征參數?，F代儀器可以通過(guò)簡(jiǎn)便的手段快速準確地測得。大致原理為：通過(guò)電化學(xué)原理將Zeta電位的測量轉化成帶電粒子淌度的測量，而粒子淌度的測量測是通過(guò)動(dòng)態(tài)光散射，運用波的多普勒效應測得。粒子表面存在的凈電荷影響粒子界面周?chē)鷧^域的離子分布，導致接近表面抗衡離子（與粒子電荷相反的離子）濃度增加。

 

　　于是，每個(gè)粒子周?chē)嬖陔p電層。圍繞粒子的液體層存在兩部分：一是內層區，稱(chēng)為Stern層，其中離子與粒子緊緊地結合在一起；另一個(gè)是外層分散區，其中離子不那么緊密的與粒子相吸附。在分散層內，有一個(gè)抽象邊界，在邊界內的離子和粒子形成穩定實(shí)體。當粒子運動(dòng)時(shí)（如由于重力），在此邊界內的離子隨著(zhù)粒子運動(dòng)，但此邊界外的離子不隨著(zhù)粒子運動(dòng)。這個(gè)邊界稱(chēng)為流體力學(xué)剪切層或滑動(dòng)面（slippingplane）。在這個(gè)邊界上存在的電位即稱(chēng)為Zeta電位。

 

　　超聲電聲法Zeta電位儀的粒度測量方法：

　?。?）晶粒：指單晶顆粒，即顆粒內為單相，無(wú)晶界。

　?。?）一次顆粒：指含有低孔隙率的一種獨立的粒子。它能被電子顯微鏡觀(guān)察到。

　?。?）團聚體：是由一次顆粒為降低表面勢能而通過(guò)范德華力或固定的橋鍵作用形成的更大顆粒。團聚體內含有相互連接的孔隙網(wǎng)絡(luò )，它能被電子顯微鏡觀(guān)察到。

　?。?）二次顆粒：指人為制造的粉料團聚粒子。如陶瓷工藝中的“造粒”。目前所謂“納米材料”的功能絕大多數體現為團聚體的功能，若能將團聚體分散成一次顆粒，則將表現出納米顆粒更多的特性。