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  • 白光干涉薄膜厚度測試儀
    白光干涉薄膜厚度測試儀

    更新時(shí)間：2023-06-29

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    白光干涉薄膜厚度測試儀，TF200根據反射回來(lái)的干涉光，用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時(shí)完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。
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